氏名: 福井啓 (l0461660)
論文題目: Paley型アダマール符号に対するTSC検査回路の構成
論文概要
TSC(完全自己検査性)回路は、故障検査法の一つであり、通常動作中に回路内部に故障が発生したときにある通常入力に対して非符号語出力が出ることによって故障が検査される、「自己検査性」という性質と、故障が原因で誤った符号語を出力しない、「故障に対して安全」という性質をもつ回路である。アダマール符号はアダマール行列の各行を符号語とする等重みクラスの符号であり、信号の直流分に制限を与える符号である。そのため、光ファイバや金属ケーブルを媒介するディジタル通信、あるいは、磁気、光メディアへのデータ記録などへの利用が期待されている。そこで、本研究ではアダマール符号のうちの次数p=8m+7のPaley型アダマール符号に対するTSC検査回路の構成してみることにした。
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