氏名: 加藤貴之 (089333756)
論文題目: テストパターン生成器としてのGLFSRの性能評価
論文概要
近年、半導体技術の発展を背景にした、VLSIの大規模化・高集積化が進み、そ
のテストは大変困難な問題となっている。それを解決するために、組み込み自
己検査がテスト技術として採用されている。組み込み自己検査による回路のテ
ストの効率はそのテストパターン生成器の性能によるところが大きいが、現在
主にテストパターン生成器として使われているLFSRは、初期値によって故障検
出能力が大きく低下する等の問題を抱えている。最近、LFSRより効率のよいテ
ストパターン生成器としてGLFSRが提案されたが、初期値の違いによる故障検
出能力への影響については述べられていない。そこで本研究では、ベンチマー
ク回路における単一縮退故障検出シミュレーションを行い、LFSR・GLFSRの初
期値の故障検出能力に与える影響を評価・比較する。その結果、GLFSRが初期
値によらず安定した故障検出能力を持つことを示す。
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