氏名: 三木崇之 (m953432)
論文題目: 部分M平面の生成法及びそのランダム性に関する検討
論文概要
VLSIの集積度の向上とマルチ・チップ・モジュール化により、論理回路の規模
が増大してきており、ますます回路の故障検査の重要性が増してきている。
故障検査のためのテストパターンは、少ないパターン数で高い故障検出率を得
るために、ランダムなパターンの集合であることが求められる。かつ、VLSIの
ような多入出力回路を検査するためには、同時に複数の入力線にパターンを印
加するため、テストパターンは2次元でなければならない。M系列を2次元に拡
張したM平面は、その2方向へのランダム性から2次元ランダムパターンとして
良好な性質を示すものと期待される。そこで本論文では、M平面から部分平面
を切り出し、それを2次元パターンとして考える。まず、M平面生成器の新たな
構成法を提案する。この生成器により、従来の生成法より圧倒的に早く部分平
面の生成が可能となる。また、LFSR,HCAより生成した2次元パターンと共に統
計的検定を行うことによってランダム性を評価し、M平面の部分平面が2次元ラ
ンダムパターンとして他のパターンより優れていることを示す。
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