氏名: 内山晃司 (m06732)
論文題目: データ依存関係の拡張とそれを用いたテストの効率化
論文概要
大規模なソフトウェア開発の要求の増加にともない、ソフトウェアの開発のラ
イフサイクルの工程の一つであるテスト工程においても、効率の向上が切望さ
れている。ソフトウェアのテストの効率化は、開発期間を短縮するための重要
な要素である。ソフトウェアのテスト技法のうち、ホワイトボックス法による
モジュールテストでは、命令、分岐、実行経路に基づくテスト基準が提案され
ている。また簡単な言語を対象に、データの依存関係に基づいたテスト基準が
提案されている。しかし、C言語のようにポインタ変数を含む言語ではデータ
の依存関係を求めることが難しい。このためこれらのテスト基準はポインタ変
数を含むプログラムには対応していない。そこでポインタを含む言語のために
データの依存関係を拡張する必要がある。この拡張は別名解析(alias
analysis)の結果を利用して行なう。またそれを利用して、上のテスト基準を
ポインタを含む言語に拡張する。
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